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近接场光学显微分光系统

近接场光学显微分光系统

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产品名称: 近接场光学显微分光系统

英文名称: NFS series

产品编号: NFS series

产品价格: 0

产品产地: 日本分光(株)/JASCO

品牌商标: JASCO

更新时间: null

使用范围: null

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概要

日本分光株式会社生产的可以分光定的描型接近光学NFS系列,世界一流。台装置能10-100nm左右的空分解力微分光量。能在微小的观测谱强化以及波峰变换可更好的对物质特性描述

 

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◆第30回井上春成賞 受賞


 

 

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◆特征

世界第一台一体化扫描型近接光学分光显微镜
数十~百nm高空间分辨率测量显微分光
・使用日本分光制的探头可准确使用特定大小的近接场光
・可同时测量样品表面微小的凹凸形状。和原子力显微镜(AFM)类似的用法。
 illumination(透过)、collection、 illumination-collection测量方式

 

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◆近接場光学显微分光装置


光纤前端产生的近接场光和样品表面相互作用产生漫反射光,检测漫反射光

对于微小领域的表征方法有利用电子线的电子显微镜形态观察、 X线微分析仪,扫描型探头电镜表面形状观察这些分析方法可以得到高空间分辨率的画像、但是得不到样品表面的化学信息。另外,虽然显微FT/IR分光、显微光激发光分光、微拉曼光等可以得到表面化学信息,但是因为空间分辨率有限度、所得到的信息也停留在微米量级。原因是光的衍射是有限度的不能超过使用波长范围。

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◆新开发光纤制作技术


光纤前端以及开口部分以外为金属套、防止漏光

NFS系列光纤前端约为数十~百nm开口的探头用于近接产生或者近接光集光。日本分光的开口技术神奈川科学技术科学院(KAST)研究成果基础上开发的特定尺寸的开口,再现性好开口的尺寸用电子显微镜高度的控制

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◆NFS series产品种类丰富

主要有以下种类。重点介绍近接场显微红外分光系统
别的型号详细请咨询

・室温型/低温型 近接光照射装置(NFS-220/320
・室温型/低温型近接扫描装置(NFS-210/310
・室温型/低温型 近接蛍光/光激发光分光装置(NFS-230/330
・近接场显微镜红外分光装置(NFS-220FT/320FT
・近接场显微红外分光装置(NFIR-200/250
・近接场纳米碳素管评价装置NFS-230C/330C、特殊定制)
・近接场时间分解分光装置(NFS-230TR/330TR、特殊定制)

 

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◆NFIR-200/250 近接场显微红外分光系统


 

近接场显微红外分光装置
外分光法代表的振动分光法、不论有机・无机应用于各种分析领域。但是,现有的红外显微分光系统间分辨率受光的衍射现象的影响,限度为10μm左右。近接分光法、可以超过这个衍射限度、可见光区域应用于从亚微细米到纳米规模的光分析,红外区域由于光纤探头吸收的原因不能进行分光分析红外领域通过采用漫反射型近接光学系统、实现了从红外到中红外领域的亚微细米空间分辨率的分光测量通过照射到探头前端的红外光产生红外近接光、检测近接光和样品鸣漫反射结果信号测量红外近接场光谱。空间分辨率不受红外波长影响、由探头前端产生近接光的实际尺寸决定、大约探头前端径大小。因此,红外分广发可用于亚微细米以下领域测量

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▼特征和系统略图
・漫反射型近接场光学装置可除去光纤探头吸收的影响。
・环保配置。
・NFIR-250的FT部装有大型测量用的样品室,可对应一般的红外测量。

装置的概略图如右图。


NFIR-200/250规格

 

机种

NFIR-200/250

测量方式

杂散光测量方式、光学调整方式探头位置调整方式

检测器

设置数量:最大2
标准检测器:液体氮气冷却MCT检测
选项检测器:液体氮气冷却InSb检测器
切换方式:电动

样品台范围

×20×20μm、高16μm

傅里叶变换型分光系统

测量波长范围40001000 cm-1 (MCT使用
 5000
2000 cm-1 (InSb使用)
分辨率400px-1
干渉計:45°入射迈克尔逊干渉
分速器Ge/KBr

微型样品

NFIR-250

控制用PC

OSWindows XP、通信:16bit AD/DA读取画像:ビデオキャプチャボード

软件

反馈信号显示器及映射测量软件
 3
次元表示软件探头观察用CCD画像表示软件
映射解析软件光谱解析软件

尺寸・重量

W1000 x D900 x H1300 mm280kgNFIR-200含防振台
 W1600 x D750 x H1300 mm
300kgNFIR-250含防振台

电源

AC100V±10% 250VA(本体)、150VAFT)、100VAPC

其他必要的工具

防振台用空气源:氮气或空气源 0.30.8MPa