Ficher Cripps-IBIS纳米压痕仪
产品名称: Ficher Cripps-IBIS纳米压痕仪
英文名称:
产品编号: Cripps-IBIS
产品价格: 0
产品产地: 国外
品牌商标: Ficher
更新时间: 2023-09-21T14:59:03
使用范围: null
环球分析测试仪器有限公司
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技术参数: |
Ficher Cripps公司的纳米力学性能测试系统IBIS可以为用户提供高精度的纳米压痕测试,纳米划痕和原子力显微镜测试。
-纳米压痕技术,划痕,光学显微镜,原子力显微镜
-XY机械性能扫描
-表面高度自动批量测试
- 部分卸载技术
-拉伸/挤压测试 MEMs 测试
-应力-应变曲线
-声发射技术
Ficher Cripps公司的纳米力学性能测试系统具有以下显著优点:
-载荷直接测量,不需要通过检测驱动线圈电流的间接测试
-加载过程中。实时反馈控制
-使用LVDT技术,达到纳米级深度分辨和线性响应
-高质量的PZT元件,没有热量产生
-钛压头支架具有高坚固度和低质量
-牢固设计
-方便更换压头
-自动逼近
-磁性样品固定
-样品操作空间大
-双载荷和深度(500mN/20um)
-可溯源的定标
-有限元分析选件
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