UV757紫外可见分光光度计
产品名称: UV757紫外可见分光光度计
英文名称:
产品编号: UV757
产品价格: 0
产品产地: 上海
品牌商标: 精科
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UV757紫外可见分光光度计
【技术参数】:
型号 |
UV757 |
波长重复性 |
≤ 0.2nm |
光谱带宽 |
2nm |
波长大允许误差 |
± 0.5nm |
波长范围 |
200nm~1000nm |
接收元件 |
光电池 |
透射比大允许误差 |
±0.5%(T) |
透射比重复性 |
≤0.2%(T) |
稳定性 |
≤ 0.004A/30min |
噪声 |
噪声≤0.5%(T) 0%噪声≤0.2%(T) |
透射比测量范围 |
0.0%(T)~200.0% (T) |
吸光度测量范围 |
-0.301(A)~4.000(A) |
光源 |
钨卤素灯12V20W(进口)DD2.5氘灯(进口) |
杂散光 |
≤0.3%(T)(在220nm以Nal测定和340nm处以NaNO2测定) |
【主机功能】:采用微机测量系统,T-A转换,自动调整0%(T)和调整(T),具有GOTOλ,自动8联样品架,自动扣除比色皿误差,浓度多点标定,斜率和截距设置等功能,具有RS232接口和并行打印口(打印机专用,另行选配)。
【联机功能】:
通过RS-232串行接口,可利用上层软件做波长扫描,时间扫描,浓度回归方程(1次,2次,3次 ),多波长测试,并大大扩展测试功能(除主机功能外)提供数据向Excel 传送方式,便于用户的后期处理。
基于Windows开发的UVCONTROL控制软件,可对主机进行面控制。包括数据采集(单点测量,光谱扫描定量测定,时间扫描)各种数据处理。
标准化、峰谷检测、面积计算。
图谱的放大、缩小、平滑、导树、四则运算 、1~4 次导树, T~A转换单波长、多波长定量测定。
测试报告可以以标准文件或者Excel输出。
扫描图谱、工作曲线和测量结果可海量存储,方便您的办公。
K系数法、一点工作曲线法,可进行次函数拟合定量分析中异常点剔除。
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