物性测试仪器-仪器设备-生物在线

冰点渗透压仪

试样量  20 μL  试样能力  单样品  测试时间  60秒  测量范围  0-2000mOsm/kg H2O  线性  0--2000mOsm/kg H2O:线性在直线  的±1%范围内  分辨率  1mOsm/kg H2O  重复性  0-400mOsm/kg H2O:±2(±1 S.D.)  400-2000mOsm/kg H2O:  ±0.5%(±1 S.D.)  漂移  每月小于1 mOsm/kg H2O  温度效应  室内环境每变化5oC(9

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台式离子计

标准缓冲溶液自动识别,将校正误差减到小 使用错误标准或仪器本身出现问题信息提示 ION600具有50组数据储存/调用功能 ION600记录仪输出,读数能够打印

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Q20PDiscovery差示扫描量热仪

Discovery 差示扫描量热仪介绍:DSC测量的是与材料内部热转变相关的温度、热流的关系,应用范围非常广,特别是材料的研发、性能检测与质量控制。材料的特性,如玻璃化转变温度、冷结晶、相转变、熔融、结晶、产品稳定性、固化/交联、氧化诱导期等,都是DSC的研究领域。

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铁矿石分析化验仪器

仪器测量范围广、精度高,高、中、低档齐全,并能接受用户特殊定货。

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微区取样仪

PHL偏振相机, PHL PI-110 偏振光相机能轻松连接到电脑,实​时观察到极化情况,自带软件,可以输出亮度,极化强度,偏振方向,方便地进行定量分析。   

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Vilastic V-E SYSTEM

Vilastic V-E SYSTEM美国VilasticScientific

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TC-DYB 电晕笔

英国舒曼,英国产38、40、42、44、46、48、50等不同张力的试笔.能准确地测试出塑料薄膜之表面张力是否达到试笔的数值.令使用者清楚了解此薄膜是否适合于印刷.复合或真空镀铝.有效地控制质量及减少因材质不合格所造成的工具延误.

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晶圆缺陷检测系统LODAS

列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10

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