3 半自动双道原子荧光光谱仪 型号:JKY/640/M315856 库号：M315856   

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微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。

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日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立（SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX，膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X）SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管，实

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新款快速手持式X射线荧光分析仪 - X-MET7000 eXpress款X-MET7000 eXpress在检测痕量元素时表现出佳性能，同时保证分析速度不受影响。X-MET7000 eXpress 使用牛津仪器 40 kV 的X射线光管和高分辨率高计数率硅漂移探测器(SDD)。我们的新款手持式X射线荧光分析仪拥有以下

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用于高分子荧光材料、发光粉及稀土掺杂粉末复合物的高温荧光测试，升温速率40℃/min.控温范围：室温--300℃；设定精度：0.1℃，控温精度0.2℃。可以用于日立全线荧光光谱仪，HJY全线荧光光谱仪。

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更快！更轻！更小！微合金钢的质量控制/保证精确的铝和镁合金分析痕量元素分析低含量铬分析，流动加速腐蚀(FAC)检测检查管道和焊接是否耐腐蚀鉴别细至1毫米直径的线材只需要几秒钟测量的表面温度高可达400℃（仅限 X-MET7000）

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用于TCSPC 荧光寿命测量及其他光学测量。闪烁频率10k-1MHz。多个波长供选择。产品NanoLED系列来自久负盛名的IBH公司。

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测试元素 As Sb Bi Pb Zn Te Se Zn Ge Cd Hg 检出限（DL）ng/mL ＜0.01 ＜1.0 ＜0.05 ＜0.001 重复性（RSD） <0.9 线性范围 大于三个数量级 道间干扰 0

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